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膜厚计探头NFe-2.0

膜厚计探头NFe-2.0
膜厚计探头NFe-2.0
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规格描述
模型
NFe-2.0
测量范围
有色金属底座0~2.00mmmm
测量方法
涡流式
显示分辨率
1μm(0~999μm)
0.1μm(0~400μm)切换
0.5μm(400~500μm)
0.01mm(1.00~2.00mm)
测量精度(光滑表面)
0~100μm:±1μm或示值的±2% 101μm~2.00mm:±2%
探测
1点恒压接触式,带V切口
φ15×47mm
耐热性:200℃
配件
标准厚板、测试用零板(用于有色金属基材)
数量
产品介绍
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物品描述 <应用> 测量有色金属基材(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上绝缘膜的厚度。
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